LASBP945_BW35nm_Shift14
產(chǎn)品編號(hào):
P72B
應(yīng)用分類(lèi):
產(chǎn)品應(yīng)用
產(chǎn)品
光學(xué)濾光片
低角度偏移濾光片
帶通濾光片
產(chǎn)品描述
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
Specification | Value | |
AOI = 0° | AOI = 30° | |
中心波長(zhǎng) | CWL=945nm(參考波長(zhǎng)) | / |
透過(guò)區(qū)域 | Tave≥90%@935~955nm | / |
帶寬 | BW[@T=50%]≤35nm | / |
BW[@T=10%]≤41.5nm | ||
截止區(qū)域1 | Tmax≤0.01%(OD4)@400-900nm | / |
截止區(qū)域2 | Tmax≤0.01%(OD4)@995-1100nm | / |
角度偏移 | CWL@T=90% shift@AOI0~30Deg≤14nm |
技術(shù) 專(zhuān)業(yè)的光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)以及生產(chǎn)工藝團(tuán)隊(duì), 可提供精準(zhǔn)的光波調(diào)制解決方案。 | 設(shè)備 專(zhuān)業(yè)的鍍膜設(shè)備設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì),完美解決常用 光學(xué)鍍膜設(shè)備缺陷,有自己的操作系統(tǒng)平臺(tái)。 | 生產(chǎn)配套 擁有先進(jìn)的配套設(shè)備其中清洗、切割、測(cè)量、 檢驗(yàn)設(shè)備均是進(jìn)口設(shè)備。 | 產(chǎn)品管控 嚴(yán)格的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)以及產(chǎn)品全檢的方式, 保證產(chǎn)品質(zhì)量。 |
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